商品详细介绍
概述: 本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。配置不同的探头,适用于不同场合。是材料保护和生产控制必备仪器。
适用范围:HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
主要功能:
可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量;
三种校准方法:一点校准、二点校准、基本校准;
显示分辨率:0.1μm(测量范围小于100μm)
1μm(测量范围大于100μm)
有两种工作方式:直接方式和成组方式
有两种测量方式:连续测量和单次测量
有两种关机方式:手动关机和自动关机
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警,并可用直方图对一批测量值进行分析;
有删除功能:对粗大误差及错误设置可进行删除处理;
打印功能:可打印测量测量值、统计值、限界、直方图
测量范围:
(1)F400探头、N400探头:0—400μm
(2)F1探头、F1/90探头、N1探头:0—1250μm
(3)F10探头:0—10000μm
(4)CN02探头:10-200μm(根据测量要求选用不同探头)
(5)N3:0-3000um
测量精度:不同探头精度要求不同
(1)F400探头、N400探头:一点校准:(2%+0.7);二点校准:(1%+0.7)
(2)F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头:一点校准:(2%+1);
二点校准:(1%+1)
(3)F10探头:一点校准:(2%+10);二点校准:(1%+10)
使用温度:0~40℃
外型尺寸:150×80×30m
重量:250g
功能 | HS2100F | HS2100N | HS3100 | HS4100 |
测量原理 | 磁性 | 涡流 | 磁性/涡流 | 磁性/涡流 |
测量范围 | 标准配置探头(F1/N1):1~1250μm | |||
测量精度 | ±(2%H+1)μm(零点校准) | |||
±[(1~3)%H+1] μm(二点校准) | ||||
统计量 | 平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV) | |||
存贮和统计 | 15个测量值 | |||
测量精度 | ±(2%H+1)μm(零点校准) | |||
±[(1~3)%H+1] μm(二点校准) | ||||
零点校准 | √ | √ | √ | √ |
二点校准 | √ | √ | √ | √ |
删除功能 | √ | √ | √ | √ |
自动关机 | √ | √ | √ | √ |
蜂鸣声提示 | √ | √ | √ | √ |
测量方式 | √ | √ | √ | √ |
欠压指示 | √ | √ | √ | √ |
错误提示 | √ | √ | √ | √ |
标准配置 | 主机 | 主机 | 主机 | 主机 |
F1探头 | N1探头 | F1(N1)探头 | 打印机 | |
基体 | 基体 | 基体 | F1(N1)探头 | |
校准片 | 校准片 | 校准片 | 基体 | |
说明书 | 说明书 | 说明书 | 校准片 | |
包装箱 | 包装箱 | 包装箱 | 说明书 | |
包装箱 | ||||
选配件 | F1、F400、F10测头 | 通讯软件 | ||
N1、N400测头 | F1、F400、F10测头 | |||
N1、N400测头 |